Atomik Kuvvet Mikroskobu (AFM), taramalı kuvvet mikroskobu (SFM) olarak da bilinir; nanometrenin küçük bir kısmı mertebesinde çözünürlük sağlayan, çok yüksek çözünürlüklü bir taramalı prob mikroskobu (SPM) türüdür.
Tanım
Atomik Kuvvet Mikroskobu (AFM), taramalı kuvve mikroskobu (SFM) olarak da adlandırılan, çok yüksek çözünürlüklü bir taramalı prob mikroskobu (SPM) türüdür. Çözünürlüğü nanometrenin küçük bir kısmı mertebesinde olup, optik kırınım sınırından 1.000'den fazla kez daha iyidir.
Bağlam
AFM, taramalı prob mikroskobu (SPM) ailesinin bir üyesidir. Bu sınıf araçlar, örnek yüzeyi çok ince bir prob ile tarayarak yüksek çözünürlüklü görüntüler elde eder; temel bilimler alanında fizik ve biyoloji gibi alanlarda nanometrik ölçekli yapıların incelenmesinde kullanılır.